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      XD-1000型鍍層測厚儀的優勢特點介紹

      發布日期:2023-01-09      瀏覽次數:173
      鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
       
      XD-1000型鍍層測厚儀對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。
       
      優勢特點介紹:
       
      可靠的高性能:測試精度、穩定性高,在提供高質量的同時減少浪費和停機時間。
       
      更高的性價比:制造工藝升級,更具性價比,大大節省使用成本。
       
      前沿檢測技術:高級成垂直光路系統,采用先進的解譜技術和影像識別算法,實現精準、快速、智能、自動檢測,滿足企業檢測需求。
       
      使用壽命更長:模塊化設計,聚焦節能,搭載自動休眠模式,延長使用壽命。
       
      核心EFP算法:先進的EFP算法不但對多層測試精準、校準方便,而且解決了多層合金、上下元素重復鍍層及滲層的檢測難題。
       
      四焦一體裝置:搭載高集成四焦技術,可測量最大90mm深度的凹槽高低落差異形件。
       
      上照式設計:上下位機管理分工,可實現對超大型工件的快、準、穩高效測量。
       
      適用性強:精準測量各類金屬鍍層厚度的同時可對電鍍液進行分析。
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