全面升級XU-100鍍層測厚儀高精尖檢測技術，搞定企業品質管控！XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm²，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。應用行業：電鍍層分析緊固

全面升級XD-1000全自動智能X熒光光譜測厚儀XD-1000上照式光譜測厚儀，XD-1000鍍層測厚儀對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件，如線路?板、引線支架、衛浴產品等。搭載四焦技術，人機交互全面優化，操作更加方便快捷。

化學鍍鎳 浸金(ENIG)系列光譜分析儀是一款專門為細小部件測量鍍層量身打造的精密儀器，擁有先進的高清CCD可以變焦配置，可以測試凹槽產品；擁有精密的瑞士移動滑軌，可以精確定位任何小樣品的測試點，方便快捷；擁有算法EFP法，不但使用了光譜發射法計算，同時也使用了光譜吸收法計算，即使是以往設備的難題，同一金屬鍍了兩層，我們也能精確測量。

XTU涂鍍層厚度檢測儀是一款專門為細小部件測量鍍層量身打造的精密儀器，擁有先進的高清CCD可以變焦配置，可以測試凹槽產品；擁有精密的瑞士移動滑軌，可以精確定位任何小樣品的測試點，方便快捷；擁有算法EFP法，不但使用了光譜發射法計算，同時也使用了光譜吸收法計算，即使是以往設備的難題，同一金屬鍍了兩層，我們也能精確測量。

毛細管聚焦X熒光鍍層測厚儀、連接器測厚儀 此系列產品可測量金屬準直無法測量的微區，多導毛細聚焦管光學元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測量微電子設備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區域。 可以測量納米級的鍍層，毛細聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區域上的X射線強度比金屬準直系統高出幾個數量級。 可以實現更高的測試精度

XTU系列五金電鍍測厚儀測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和先進的光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動.

X射線熒光膜厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和先進的光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動.

柔性線路板X射線膜厚儀 XTU系列測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和先進的光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm