搜索關鍵詞:波長色散光譜儀 能量色散光譜儀
最近發布的IPC 4552-Rev。 給使用
化學鍍鎳/ 浸金(ENIG)
的PCB制造商帶來了挑戰。 特別是,新規格為適用于最佳產品性能的黃金量設定了上限。 必須嚴密監控這種金厚度,并且*的測量方法是XRF厚度測試。 要準確測量這個新定義范圍內的金厚度,需要特定的XRF硬件,軟件和校準標準。
大多數PCB制造商已經將XRF設備作為其質量控制流程的一部分,但他們發現許多較老的儀器難以滿足新的IPC規范要求,并可能需要升級到最新的XRF技術。 一六儀器是國產儀器中可以保證所有XRF儀器都符合新的IPC 4552-A要求的公司。
化學鍍鎳 浸金(ENIG)系列光譜分析儀是一款專門為細小部件測量鍍層及RoHS元素分析量身打造的精密儀器,擁有先進的高清CCD可以變焦配置,可以測試凹槽產品;擁有精密的瑞士移動滑軌,可以精確定位任何小樣品的測試點,方便快捷;擁有算法EFP法,不但使用了光譜發射法計算,同時也使用了光譜吸收法計算,即使是以往設備的難題,同一金屬鍍了兩層,我們也能精確測量。
化學鍍鎳 浸金(ENIG)系列光譜分析儀性能優勢:
1.微小樣品檢測:小測量面積0.03mm2(加長測量時間可小至0.01mm2)
2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-30mm
3.先進的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。
4.先進的解譜技術:減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。
5.高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積25mm2探測器。
6.X射線裝置:微焦加強型射線管搭配聚焦裝置。
一六儀器研制的測厚儀*的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達到視覺與測試定位一體,且X光擴散度??;與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能,實現高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
先進的EFP算法
專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上,計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優化迭代開發出EFP核心算法,結合先進的光路轉換技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統,只需要少量的標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
RoHS檢測及標定
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